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ASTM F448M-1994 稳态初级光电流测量的标准试验方法(米制)1

作者:标准资料网 时间:2024-05-12 13:17:05  浏览:8881   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:TestMethodforMeasuringSteady-StatePrimaryPhotocurrent[Metric]
【原文标准名称】:稳态初级光电流测量的标准试验方法(米制)1
【标准号】:ASTMF448M-1994
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.11
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:辐照;晶体管;放射性照射;电导体;电子元部件;电流测量;辐照度;稳定的;半导体;热量计;对半导体设备的影响;绝缘门区域;稳态初级光电流;热致发光探测器TLD;齐纳二极管;试验;设备;连接点
【英文主题词】:Calorimeter;Currentmeasurement-semiconductors;Electricalconductors-semiconductors;Insulatedgatefield-effect(semiconductor)devices;Irradiance/irradiation-semiconductors;Junctionfield-effect(semiconductor)devices;Radiationexposure-elec
【摘要】:1.1Thistestmethodcoversthemeasurementofsteady-stateprimaryphotocurrent,pp,generatedinsemiconductordeviceswhenthesedevicesareexposedtoionizingradiation.Theseproceduresareintendedforthemeasurementofphotocurrents
【中国标准分类号】:A55
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:7P.;A4
【正文语种】:


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基本信息
标准名称:橡胶用造粒炭黑 第2部分:细粉含量和粒子磨损量的测定
英文名称:Rubber compounding ingredients―Carbon black―Part 2: pelletized-Determination of fines content and pellet attrition
中标分类: 化工 >> 橡胶制品及其辅助材料 >> 炭黑
ICS分类: 橡胶和塑料工业 >> 橡胶原料和塑料原料 >> 橡胶合成配料
替代情况:替代GB/T 14853.2-1993;GB/T 14853.2-2002;GB/T 14853.3-1993;GB/T 14853.3-2002
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2006-08-01
实施日期:2007-01-01
首发日期:1993-12-30
作废日期:
主管部门:中国石油和化学工业协会
提出单位:中国石油和化学工业协会
归口单位:全国橡胶与橡胶制品标准化技术委员会
起草单位:中橡集团炭黑工业研究设计院
起草人:聂素青、夏春山
出版社:中国标准出版社
出版日期:2007-01-01
页数:平装16开 页数:8, 字数:10千字
计划单号:20060464-T-606
书号:155066·1-28688
适用范围

本标准规定了橡胶用造粒炭黑细粉含量和粒子磨损量的测定方法。
本标准适用于各类橡胶用造粒炭黑细粉含量和粒子磨损量的测定。

前言

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所属分类: 化工 橡胶制品及其辅助材料 炭黑 橡胶和塑料工业 橡胶原料和塑料原料 橡胶合成配料
【英文标准名称】:Semiconductordevices;metalcaseswithglassinsulation,requirementsandtests
【原文标准名称】:半导体器件.第1部分:玻璃绝缘的金属外壳、要求和试验
【标准号】:DIN41881-1-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:外壳;行李箱;半导体;半导体器件;规范(审批);试验;电子工程;电气工程;要求;元部件
【英文主题词】:Cases;Components;Electricalengineering;Electronicengineering;Enclosures;Semiconductordevices;Semiconductors;Specification(approval);Testing
【摘要】:Semiconductordevices;metalcaseswithglassinsulation;requirementsandtests
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:4P;A4
【正文语种】:德语



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